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共找到 1 与3．为什么测量单晶样品电阻率时测试平面要求为毛面 相关的结果，耗时9 ms
1．能否用四探针法测量n／n+外延片及p／p+外延片外延层的电阻率?2．能否用四探针法测量n／p外延片外延层的电阻率?
3．为什么测量单晶样品电阻率时测试平面要求为毛面
,而测试扩散片扩散
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