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共找到 1 与由于载流子迁移率的变化 相关的结果，耗时49 ms
所谓“压阻效应”，是指当半导体受到应力作用时，
由于载流子迁移率的变化
，使其电阻发生变化的现象，它是C•S史密斯在19u4年对硅和锗的电阻率与应力变化特性测试中发现的．某学校研
物理
几如欧，实验室中有下列器材：
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