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利用光的干涉现象可高精度地检查物体表面的平整程度．如果表面是平的，干涉条纹互相平行，如果表面有凸出与凹下，则在凸出与凹下处的干涉条纹会扭曲，图中所示干涉条纹中与实物理

在“用双缝干涉测量光的波长”实验中，选用红色滤光片和间距为0.20mm的双缝，双缝与屏的距离为60Omm．某同学正确操作后，在目镜中看到如图甲所示的干涉条纹．换成紫色滤光片正确操作物理

此时测量头的读数为25.70

（1）某同学用如图a所示的实验装置做“双缝干涉测光的波长”的实验，相邻两条亮纹间的距离用带有螺旋测微器的测量头（如图b所示）测出．测量头的分划板中心刻线与某亮纹中心对齐，物理

种图样，请回答下面的问题①如

在利用双缝干涉测定光波波长的实验时，将测量头的分划板中心刻度线与某亮纹中心对齐，将该亮纹定为第1条亮纹，此时手轮上的示数如图甲所示，然后同方向转动测量头，使分划板中心刻物理

到屏的距离为，0.700m，

如图所示,在双缝干涉实验中在双缝干涉实验中,设单缝宽度为h,双缝距离为d,双缝与屏距离为L,当采取下列四组数据中的哪一组时,可在光屏上观察到清晰可辨的干涉条纹()A、h＝1cmd＝0.1mmL＝1 物理

＝10cm L＝1mD、h＝

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